(19)国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告 号 (45)授权公告日 (21)申请 号 202221609972.7 (22)申请日 2022.06.27 (73)专利权人 四川益丰电子科技有限公司 地址 610073 四川省成 都市青羊区敬业路 218号7栋2 楼1号 (72)发明人 王祁钰　罗力伟　杨柯　 (74)专利代理 机构 四川恒靠谱知识产权代理事 务所(特殊普通 合伙) 51335 专利代理师 潘华 (51)Int.Cl. G01N 21/84(2006.01) G01N 21/01(2006.01) B08B 1/04(2006.01) (54)实用新型名称 一种芯片加工用检测装置 (57)摘要 本实用新型公开了一种芯片加工用检测装 置， 属于检测装置技术领域， 其包括装置本体， 所 述装置本体的外表面顶部设置有防护清洁装置， 所述防护清洁装置包括U形框、 防护壳体和清洁 结构， 所述U形框的外表面底部与装置本体的外 表面顶部连接， 所述U形框的外表面一侧固定安 装有驱动电机， 所述驱动电机的输出端连接有螺 纹杆， 所述螺纹杆的外表面螺纹连接有螺孔块。 该芯片加工用检测装置， 通过设置防护清洁装 置， 在螺纹杆的带动下， 使得螺孔块可 以沿着螺 纹杆运动， 进而可 以带动防护壳体运动， 使得防 护壳体可以对发光工作台进行防护， 进而减少发 光工作台上的落灰和积灰量， 减少灰尘对发光工 作台的正常使用和芯片的检测造成影响。 权利要求书1页 说明书4页 附图4页 CN 218067666 U 2022.12.16 CN 218067666 U 1.一种芯片加工用检测装置， 包括装置本体(1)， 其特征在于： 所述装置本体(1)的外表 面顶部设置有防护清洁装置(3)， 所述防护清洁装置(3)包括U形框(31)、 防护壳体(38)和清 洁结构(39)， 所述U形框(31)的外表面底部与装置本体(1)的外表面顶部连接， 所述U形框 (31)的外表面一侧固定安装有驱动电机(32)， 所述驱动电机(32)的输出端连接有螺纹杆 (33)， 所述螺纹杆(3 3)的外表面螺纹连接有螺孔 块(34)。 2.根据权利要求1所述的一种芯片加工用检测装置， 其特征在于： 所述螺孔块(34)的外 表面底部连接有燕尾滑 块(36)， 所述U 形框(31)的内壁底部开设有矩形槽(35)， 所述燕尾滑 块(36)的外表面与矩形槽(3 5)的内壁滑动连接 。 3.根据权利要求1所述的一种芯片加工用检测装置， 其特征在于： 所述防护壳体(38)的 外表面一侧连接有 连接杆(311)， 所述连接杆(311)远离防护壳体(38)的一端 连接有矩形卡 块(310)。 4.根据权利要求3所述的一种芯片加工用检测装置， 其特征在于： 所述螺孔块(34)的外 表面顶部连接有矩形卡框(37)， 所述矩形卡块(310)的外表面大小和形状与矩形卡框(37) 的内壁大小和形状相适配。 5.根据权利要求4所述的一种芯片加工用检测装置， 其特征在于： 所述清洁结构(39)包 括辅助杆(391)和清洁刷(392)， 所述辅助杆(391)的一端与防护壳体(38)的内壁一侧通过 轴承转动连接， 所述辅助杆(391)的一端 连接有传动齿轮(393)， 所述传动齿轮(393)的外表 面一侧连接有圆卡框(394)， 所述清洁刷(392)的外表 面一侧连接有圆卡块(395)， 所述圆卡 块(395)的外表面大小和形状与圆卡框(394)的内壁大小和形状相适配。 6.根据权利要求5所述的一种芯片加工用检测装置， 其特征在于： 所述圆卡框(394)的 外表面对称开设有两个辅助矩形孔(397)， 所述圆卡块(395)的外表 面对称连接有两个限位 圆杆(396)， 所述限位圆杆(396)设置在辅助矩形孔(397)的内壁。 7.根据权利要求5所述的一种芯片加工用检测装置， 其特征在于： 所述装置本体(1)的 外表面顶部连接有齿条板(398)， 所述传动齿轮(393)的外表面与齿条板(398)的顶部相啮 合。权　利　要　求　书 1/1 页 2 CN 218067666 U 2一种芯片加工用检测装 置 技术领域 [0001]本实用新型属于检测装置技 术领域， 具体为 一种芯片加工用检测装置 。 背景技术 [0002]在芯片加工过程中需要使用倍数镜将芯片的结构放大， 进而投射到显示屏上进行 外观检测， 整个过程中需要使用到检测装置， 现有的一种芯片加工用检测装置， 包括装置本 体1、 发光工作台2、 安装板4、 电动伸缩杆5、 倍数镜6、 控制台7和显示板8， 反光工作台2设置 在装置本体1的顶部， 安装板4与装置本体1的顶部连接， 电动伸缩杆5固定安装在安装板4的 一侧， 倍数镜6与电动伸缩杆5的输出端连接， 控制台7安装在装置本体1的顶部， 现实板8设 置在控制台7的一侧， 实际操作时， 将芯片放置在发光工作台2的上方， 此时启动电动伸缩杆 5， 使得倍数镜6运动至 芯片的上方， 此时操作控制台7， 使 得倍数镜6将芯片的影像传输至显 示板8上进行检测。 [0003]在检测技术后， 发光工作台上容易落灰、 积灰， 进而使得发光工作台再次使用时， 灰尘容易对检测过程产生影响， 且灰尘容易粘附上芯片， 进而影响芯片的检测和使用， 十分 不便。 实用新型内容 [0004](一)解决的技 术问题 [0005]为了克服现有技术的上述缺陷， 本实用新型提供了一种芯片加工用检测装置， 解 决了在检测技术后， 发光工作台上容易落灰、 积灰， 进而使得发光工作台再次使用时， 灰尘 容易对检测过程产生影响， 且灰尘容易粘附上芯片， 进而影响芯片的检测和使用， 十 分不便 的问题。 [0006](二)技术方案 [0007]为实现上述目的， 本 实用新型提供如下技术方案： 一种芯片加工用检测装置， 包括 装置本体， 所述装置本体的外表面顶部设置有防护清洁装置， 所述防护清洁装置包括U形 框、 防护壳体和清洁结构， 所述U 形框的外表 面底部与装置本体的外表面顶部连接， 所述U 形 框的外表面一侧固定安装有驱动电机， 所述驱动电机的输出端连接有螺纹杆， 所述螺纹杆 的外表面螺纹连接有螺孔 块。 [0008]作为本实用新型的进一步方案： 所述螺孔块的外表面底部连接有燕尾滑块， 所述U 形框的内壁底部开设有矩形槽， 所述燕尾滑块的外表面与矩形槽的内壁滑动连接 。 [0009]作为本实用新型的进一步方案： 所述 防护壳体的外表面一侧连接有连接杆， 所述 连接杆远离防护壳体的一端连接有矩形卡 块。 [0010]作为本实用新型的进一步方案： 所述螺孔块的外表面顶部连接有矩形卡框， 所述 矩形卡块的外表面大小和形状与矩形卡框的内壁大小和形状相适配。 [0011]作为本实用新型的进一步方案： 所述清洁结构包括辅助杆和清洁刷， 所述辅助杆 的一端与防护壳体的内壁一侧 通过轴承转动连接， 所述辅助杆的一端连接有传动齿轮， 所说　明　书 1/4 页 3 CN 218067666 U 3