(19)国家知识产权局 (12)发明 专利 (10)授权公告 号 (45)授权公告日 (21)申请 号 202211080666.3 (22)申请日 2022.09.05 (65)同一申请的已公布的文献号 申请公布号 CN 115171768 A (43)申请公布日 2022.10.11 (73)专利权人 北京得瑞领新科技有限公司 地址 100192 北京市海淀区西小口路6 6号 中关村东升科技园 ·北领地B-6号楼A 座9层A905室 (72)发明人 徐高翔　薛红军　孙丽华　 (74)专利代理 机构 北京慧智兴达知识产权代理 有限公司 1 1615 专利代理师 李丽颖 (51)Int.Cl. G11C 29/12(2006.01)G06Q 10/00(2012.01) G06K 9/62(2022.01) G11C 29/38(2006.01) G11C 29/44(2006.01) (56)对比文件 CN 114943321 A,202 2.08.26 CN 110556155 A,2019.12.10 CN 103426785 A,2013.12.04 CN 111192623 A,2020.0 5.22 US 2022188188 A1,202 2.06.16 审查员 李元 (54)发明名称 提升SSD不良品分析效率的方法、 装置、 存储 介质及设备 (57)摘要 本发明涉及数据存储技术领域， 提供一种提 升SSD不良品分析效率的方法、 装置、 存储介质及 设备， 该方法包括： 从log文件中获取测试出的不 良SSD在测试中的异常事件； 对各个异常事件进 行解析， 得到异常事件对应的物理器件； 根据异 常事件对应物理器件不同将异常事件划分为不 同事件类型； 根据各个事件类型中异常事件的数 量和事件类型的评分权重计算与每一事件类型 对应的物理器件的异常评分； 将异常评分大于对 应的预设评分阈值的物理器件判定为异常元器 件并查询其在PCB上位置。 本发明能够自动定位 到SSD不良品的异常元器件， 以便维修人员根据 分析结果进行相应器件的维修， 精简了不良品的 维修流程， 降低维修流程人员成本， 提高生产效 率。 权利要求书2页 说明书9页 附图3页 CN 115171768 B 2022.12.02 CN 115171768 B 1.一种提升S SD不良品分析效率的方法， 其特 征在于， 所述方法包括： 读取log文件， 以从l og文件中获取测试 出的不良S SD在测试中的异常事 件； 对各个异常事 件进行解析， 得到各个异常事 件对应的物理器件； 根据各个异常事 件对应的物理器件不同将异常事 件划分为 不同的事 件类型； 根据各个事件类型中异常事件的数量和预设的各个事件类型的评分权重计算与每一 事件类型对应的物理器件的异常评分； 判断各个物理器件的异常评分是否大于各自对应的预设评分阈值， 将异常评分大于对 应的预设评分阈值的物理器件判定为异常元器件； 在读取log文件过程中， 所述方法还 包括： 从log文件中获取测试 出的不良S SD的PCB信息； 在将异常评分大于对应的预设评分阈值的物理器件判定为异常元器件之后， 根据PCB 信息获取与所述P CB信息对应的器件位置映射关系， 所述器件位置映射关系包括不良SSD中 各个物理器件在PCB中的位置分布信息； 根据所述器件位置映射关系确定异常元器件在PCB中的位置分布。 2.根据权利要求1所述的方法， 其特 征在于， 在读取l og文件过程中， 所述方法还 包括： 从log文件中获取测试 出的不良S SD的固件配置信息； 相应的， 所述对各个异常事件进行解析， 得到各个异常事件对应的物理器件， 包括： 基 于不良SSD的固件配置信息对log文件中异常事件发生的位置信息进 行解析， 得到各个异常 事件对应的物理器件。 3.根据权利要求1 ‑2任一项所述的方法， 其特征在于， 所述异常事件包括： 主控制器异 常、 DDR异常、 外围器件异常和NAND  闪存异常， NAND  闪存异常包括： NAND  FLASH初始化失 败、 擦除失败、 编程失败和重读失败； 所述根据各个异常事 件对应的物理器件不同将异常事 件划分为 不同的事 件类型包括： 将主控制器异常、 D DR异常、 外围器件异常 分别划分为对应的事 件类型； 将NAND FLASH初始化失败、 擦除失败、 编程失败和重读失败按照事件发生的片选区域、 颗粒、 物理块或物理页的不同划分为 不同的事 件类型。 4.根据权利要求3所述的方法， 其特 征在于， 所述方法还 包括： 将NAND FLASH初始化失败按照事 件发生的芯片target进行异常事 件统计； 将擦除失败按照事 件发生的物理块进行异常事 件统计； 将编程失败按照事 件发生的物理块进行异常事 件统计； 将重读失败按照事 件发生的物理页进行异常事 件统计。 5.根据权利要求 4所述的方法， 其特 征在于， 所述方法还 包括： 若发生重读 失败的物 理页规律性地分布在物理块上， 则将重读 失败按照事件发生的物 理页和物理块分别进行异常事 件统计； 若发生重读 失败的物 理页规律性地分布在物理块上， 且发生重读 失败的物理块规律性 地分布在颗粒上， 则将重读失败按照事件发生的物理页、  物理块和颗粒分别进 行异常事件 统计。 6.根据权利要求5所述的方法， 其特 征在于， 各个事 件类型的评分权 重具有以下关系： 主控制器异常=DDR异常=外围器件异常=  NAND FLASH初始化失败>擦除失败=编程失败权　利　要　求　书 1/2 页 2 CN 115171768 B 2=发生在颗粒的重读失败  > 发生在物理块的重读失败>发生在物理页的重读失败。 7.一种提升S SD不良品分析效率的装置， 其特 征在于， 所述装置包括： 获取模块， 用于读取lo g文件， 以从log文件中获取测试出的不良SSD在测试中的异常事 件； 解析模块， 用于对各个异常事 件进行解析， 得到各个异常事 件对应的物理器件； 统计模块， 用于根据 各个异常事件对应的物理器件不同将异常事件划分为不同的事件 类型； 计算模块， 用于根据 各个事件类型中异常事件的数量和预设的各个事件类型的评分权 重计算与每一事 件类型对应的物理器件的异常评分； 判定模块， 用于判断各个物理器件的异常评分是否大于各自对应的预设评分阈值， 将 异常评分大于对应的预设评分阈值的物理器件判定为异常元器件； 获取模块， 在读取log文件过程中， 还用于从log文件中获取测试出的不良SSD的PCB信 息； 所述判定模块， 还用于在将异常评分大于对应的预设评分阈值的物理器件判定为异常 元器件之后， 根据PCB信息获取与所述PCB信息对应的器件位置映射关系， 所述器件位置映 射关系包括不良SSD中各个物理器件在P CB中的位置 分布信息； 根据所述器件位置映射关系 确定异常元器件在PCB中的位置分布。 8.一种计算机可读存储介质， 其上存储有计算机程序， 其特征在于， 该计算机程序被处 理器执行时实现如权利要求1 ‑6任一项所述方法的步骤。 9.一种计算机设备， 其特征在于， 包括存储器、 处理器及存储在存储器上并可在处理器 上运行的计算机程序， 所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1 ‑6任一项所述 方法的步骤。权　利　要　求　书 2/2 页 3 CN 115171768 B 3