GB-T 44221-2024 光学系统波前像差的测定 夏克-哈特曼光电测量法

GB ICS17.180.99 CCSL50 中华人民共和国国家标准 GB/T44221—2024 光学系统波前像差的测定夏克-哈特曼光电测量法 Determination ofwavefrontaberrationinoptical systems- Electro-opticalShack-Hartmannmethod 2024-07-24发布 2025-02-01实施国家市场监督管理总局发布国家标准化管理委员会 GB/T44221—2024 目次前言范围 2 规范性引用文件…· 3术语和定义… 4测量原理及方法 4.1测量原理 4.2 光学系统波前像差测量方法· 4.3 光学零件面形偏差的测量 5测量条件 5.1 测量环境 5.2 样品.. 6设备及装置 6.1 测量仪 6.2 辅助镜头 7 测量步骤 7.1 测量前准备 7.2 波前重构方法的选择 7.3 光路对准· 7.4 测量与数据的判定 8测量数据处理 *6 9测量报告附录A（资料性）波前复原方法附录B（资料性） Zernike多项式序列 11 附录C(资料性) 测量报告 13 参考文献 I GB/T44221—2024 前言定起草。请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任本文件由中国科学院提出。本文件由全国光测量标准化技术委员会（SAC/TC487）归口。准化研究院、中国科学院空天信息创新研究院、中国科学院长春光学精密机械与物理研究所、苏州慧利仪器有限责任公司、中国计量科学研究院、长春奥普光电技术股份有限公司、浙江舜宇光学有限公司、成都科奥达光电技术有限公司、苏州一光仪器有限公司、舟山市质量技术监督检测研究院本文件主要起草人：史国华、邢利娜、何益、杨金生、蔡建奇、王璞、刘春雨、韩森、洪宝玉、冯长有、包明帝、叶虹、谢桂华、伍开军、沈晨雁、郝华东。 I

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